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DEN-ON INSTRUMENT
QX-250i™
적용 가능 분야
2D AOI
제품 설명
3세대 비전 알고리즘 SAM(Statistical Appearance Modeling) 채용
0402 Chip, QFP 0.3 Pitch, THT 부품 등 모든 형태의 SMD 및 자삽 부품 검사 가능
설비 가동율 98% 이상 달성
상세정보
제품 상세정보
Inspection Speed
200cm²/sec (2D)
Min. Component
0402㎜(01005in.)
Panel Size
400㎜×308㎜
Image Pixel
80M Pixel Sensor on each SIM Module (12㎛ Pixel)
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