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Product

QX-250i™

적용 가능 분야
  • 2D AOI
제품 설명
  • 3세대 비전 알고리즘 SAM(Statistical Appearance Modeling) 채용
  • 0402 Chip, QFP 0.3 Pitch, THT 부품 등 모든 형태의 SMD 및 자삽 부품 검사 가능
  • 설비 가동율 98% 이상 달성
QX-150i.jpg

상세정보

제품 상세정보
Inspection Speed 200cm²/sec (2D)
Min. Component 0402㎜(01005in.)
Panel Size 400㎜×308㎜
Image Pixel 80M Pixel Sensor on each SIM Module (12㎛ Pixel)